| title | media type | ISBN-13 | year of publica- tion | other author(s) | |
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| Foucher Expertise comptable: Droit des sociétés et des autres groupements - Droit de l'entreprise en difficulté, épreuve n° 1 DECF, DESCF/MSTCF | Broché | 978-2-216-09576-6 | 2004 | ||
| Islamic Patterns | Paperback | 978-0-486-23537-0 | 2013 | ||
| Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects | Hardcover | 978-0-387-11515-3 | 1983 | Michel Lannoo | |
| Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects | Gebunden | 978-3-540-11515-1 | 1983 | ||
| Point Defects in Semiconductors, Vol. 1: Theoretical Aspects | Hardcover | 978-0-387-10518-5 | 1981 | Michel Lannoo | |
J.B. · J. C. Bourgoin · Jacques Bourgoin · Jocelyne Bourgoin · Joseph François Bourgoin De Villefore · Joseph Franois Bourgoin De Villefore · Jules Bourgoin
Dover Publications · Foucher · Springer