Journey to Data Quality (The MIT Press)

Richard

by: Yang W. Lee · Leo L. Pipino · Richard Y. Wang · James D. Funk

Paperback

ISBN: 978-0-262-51335-7

ISBN-10: 0-262-51335-8

The MIT Press · 2009

See also:
2009Printed Access CodeJourney to Data Quality
2006HardcoverJourney to Data Quality