Stanley L. Flegler

S. L.

Oxford University Press · Spektrum Akademischer Verlag

title ISBN-13
(ISBN-10)
year of publica-
tion
other author(s)
Elektronenmikroskopie. Grundlagen, Methoden, Anwendungen
978-3-86025-341-0
(3-86025-341-7)
1995John W. Heckman · Karen L. Klomparens
Scanning and Transmission Electron Microscopy: An Introduction 978-0-19-510751-7
(0-19-510751-9)
1997John W. Heckman Jr · Karen L. Klomparens

 

Stanley L. Friedlander