| Titel | ISBN-13 (ISBN-10) | Erschei- nungsjahr | andere Autoren |
|---|---|---|---|
| Noise Figure Characterization: An introduction to on-wafer noise figure measurement | 978-3-8443-2873-8 (3-8443-2873-4) | 2011 | Othman Sidek · Muhamad Azman Miskam |
S M · Saagar Mahida · Sagar Mohite · Saguaro Media · Shuichiro Maeda