| Titel | ISBN-13 (ISBN-10) | Erschei- nungsjahr | andere Autoren |
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| Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization | 978-3-O3O-26171-9 (3-O3O-26171-9) | 2019 | Sheldon Tan · Mehdi Tahoori · Taeyoung Kim · Shengcheng Wang · Zeyu Sun |