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Rimoon Agaiby

R. A. · Roman Asshoff

TitelISBN-13
(ISBN-10)		Erscheinungsjahr
THE RELIABILITY OF STRAINED SI MOSFETS ON VARIED TECHNOLOGY PLATFORMS: Reliability of Advanced Si Technology978-3-8383-6332-5
(3-8383-6332-9)		2010

Rin Akira