| Titel | ISBN-13 (ISBN-10) | Erschei- nungsjahr | andere Autoren |
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| Selected Topics on Microwave Measurements, Noise in Devices and Circuits, and Transistor Modeling: A Festschrift for Peter Heymann | 978-3-86537-328-1 (3-86537-328-3) | 2015 | Abraham M. Rudolph |
R.D. · Ralf Dörner · Ralph-Walther Doerner · Reinhard Dörner · Renate Dörner