| Titel | ISBN-13 (ISBN-10) | Erschei- nungsjahr | andere Autoren |
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| X-Ray Diffraction at Elevated Temperatures: A Method for In Situ Process Analysis | 978-3-527-27842-8 (3-527-27842-7) | 1993 | Deborah D Chung · H Arnold · Debastis Ghosh |
P W. · Patrick D. · Patrick W