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Othman Sidek

O's

TitelISBN-13
(ISBN-10)		Erschei-
nungsjahr		andere Autoren
Noise Figure Characterization: An introduction to on-wafer noise figure measurement978-3-8443-2873-8
(3-8443-2873-4)		2011Shukri Mohd · Muhamad Azman Miskam

Othman Sulaiman