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Moises Padilla

M.P. · Mukesh Patel

TitelISBN-13
(ISBN-10)		Erschei-
nungsjahr		andere Autoren
Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications978-3-527-41152-8
(3-527-41152-6)		2014Manuel Servin · J. Antonio Quiroga

Moises Perez Zavala