| Titel | ISBN-13 (ISBN-10) | Erschei- nungsjahr | andere Autoren |
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| Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials | 978-3-319-99824-4 (3-319-99824-2) | 2019 | Otwin Breitenstein · Wilhelm Warta |
C.S. · M.C. · M S. · M. Schubert · Martin C · Martin-S · Martin Schubert