M. Lannoo

TitelISBN-13
(ISBN-10)
Erschei-
nungsjahr
andere Autoren
Point Defects in Semiconductors II. Experimental Aspects: Experimental Aspects Vol 2978-3-540-11515-1
(3-540-11515-3)
1983J. Bourgoin
Point Defects in Semiconductors I: Theoretical Aspects978-3-540-10518-3
(3-540-10518-2)
1981

M.-L. · Michael J. Lannoo · Michael Lannoo · Michel Lannoo · VANDERHAEGHE, Margaret LANNOO

M. lanting