| title | ISBN-13 | year of publica- tion | other author(s) | |
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| Angewandte Oberflächenanalyse: Mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie, AES Auger-Elektronen-Spektrometrie, XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie | 978-0-387-15050-5 | 1986 | ||
| Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie | 978-3-540-15050-3 | 1986 | H.J. Dudek · Maria F. Ebel | |
| Environmental Chemistry: a Cluster of Human Capital and Mobility Research Networks | 978-92-827-9100-4 | 1996 | C Ayache · U Bertazzoni | |
| Envirotrace: Presentation of the Network for Trace Analytical Chemistry in the Environment | 978-92-827-9101-1 | 1996 | J a C Broekaert | |
| Progress in Materials Analysis | 978-0-387-81905-1 | 1986 | ||
| Progress in Materials Analysis: Vol. 2 | 978-3-211-81905-0 | 2013 | ||