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J. Antonio Quiroga

J. A.

TitelISBN-13
(ISBN-10)		Erschei-
nungsjahr		andere Autoren
Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications978-3-527-41152-8
(3-527-41152-6)		2014Manuel Servin · Moises Padilla

J. Antonio Sanahuja