Ireneusz Mrozek

Titel	Art	ISBN-13 (ISBN-10)	Erscheinungsjahr
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults	Taschenbuch	978-3-030-08198-0 (3-030-08198-2)	2019
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults	Gebunden	978-3-319-91203-5 (3-319-91203-8)	2018