| Titel | ISBN-13 (ISBN-10) | Erschei- nungsjahr | andere Autoren |
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| Einführung in die Sekundärionenmassenspektrometrie - SIMS - | 978-3-519-O3239-7 (3-519-O3239-2) | 1999 | Miklos Riedel · Bettina-Kirsten Düsterhöft |
H.D. · Hans Deuster · Hans Diester · Hans Duistermaat · Heinz Dockter · Henk Dijkstra