| Titel | ISBN-13 (ISBN-10) | Erschei- nungsjahr | andere Autoren |
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| Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie | 978-3-54O-15O5O-3 (3-54O-15O5O-1) | 1986 | M. Grasserbauer · Maria F. Ebel |
H.D. · H.J. · Hans Joachim Dudek · J.D. · Pawel Habrat Jerzy Dudek