| Titel | ISBN-13 (ISBN-10) | Erscheinungsjahr |
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| Verfahren zur Charakterisierung ultradünner Schichten: Abbildende Ellipsometrie kombiniert mit ortsaufgelöster Reflexionsspektroskopie zur Untersuchung von ultradünnen Schichten | 978-3-639-O5845-1 (3-639-O5845-3) | 2013 |
C. K. · Christian Kaltenbacher · Christian Klettner · Christof Kaldonek · Christopher Klütmann