| Titel | Art | ISBN-13 (ISBN-10) | Erschei- nungsjahr | andere Autoren | |
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| A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy | Taschenbuch | 978-3-030-07498-2 (3-030-07498-6) | 2019 | ||
| A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy | Gebunden | 978-3-319-98481-0 (3-319-98481-0) | 2018 | ||
| Practical Engineering Failure Analysis | Hardcover | 978-0-8247-5742-7 (0-8247-5742-4) | 2004 | Hani M. Tawancy · Nureddin M. Abbas | |