| Titel | ISBN-13 (ISBN-10) | Erschei- nungsjahr |
|---|---|---|
| Herstellung, Charakterisierung und Bewertung von leitfähigen Diffusionsbarrieren auf Basis von Ta, Ti und W für die Kupfermetallisierung von Siliciumschaltkreisen | 978-3-8322-2532-2 (3-8322-2532-3) | 2004 |
J.B. · James Bannon · James Baumann · James Benhin · James Bohman · James Bowman · James Bynon · Johannes Bohmann