E. Jong-Kramer · Edward J. Kramer · J.K. · J. Kramer
Springer Berlin Heidelberg · Vch Pub
| Titel | Art | ISBN-13 (ISBN-10) | Erschei- nungsjahr | andere Autoren | |
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| Electronic Structure and Properties of Semiconductors | Hardcover | 978-0-89573-692-5 (0-89573-692-6) | 1991 | R. W. Cahn · P. Haasen | |
| Molecular Simulation/Fracture/Gel Theory | Taschenbuch | 978-3-642-07569-8 (3-642-07569-X) | 2010 | H.R. Brown · C. Creton · C.-Y. Hui · W.H. Jo · K. Suematsu · J.S. Yang | |
| Molecular Simulation/Fracture/Gel Theory | Gebundene Ausgabe | 978-3-540-42126-9 (3-540-42126-2) | 2001 | H.R. Brown · C. Creton · C.-Y. Hui · W.H. Jo |